Radiation-Induced Short Channel (RISCE) and Narrow Channel (RINCE) Effects in 65 and 130 nm MOSFETs
PACCAGNELLA, ALESSANDRO;GERARDIN, SIMONE
2015
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
Radiation-Induced Short Channel (RISCE) andNarrow Channel (RINCE) Effects in 65 and130 nm MOSFETs.pdf
Accesso riservato
Tipologia:
Published (Publisher's Version of Record)
Licenza:
Accesso privato - non pubblico
Dimensione
1.46 MB
Formato
Adobe PDF
|
1.46 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.




