Analysis of TID failure modes in SRAM-based FPGA based on gamma-ray and synchrotron X-ray irradiation

PACCAGNELLA, ALESSANDRO;GERARDIN, SIMONE;BAGATIN, MARTA;
2013
2013
Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS
WOS:000349119800081
2-s2.0-84949924757
9781467350570
9781467350570
04.01 - Contributo in atti di convegno
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