Open circuit voltage decay as a tool to assess the reliability of organic solar cells: P3HT:PCBM vs. HBG1:PCBM

TORTO, LORENZO;CESTER, ANDREA;RIZZO, ANTONIO;WRACHIEN, NICOLA;
2017

2017
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2017 International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017
9781509066407
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