Status of the ion electron emission microscope at the SIRAD single event facility / Bisello, Dario; Candelori, Andrea; DAL MASCHIO, M.; Giubilato, Piero; Kaminsky, A.; Nigro, Massimo; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Sedhykh, S.; Tessaro, M.; Wyss, J.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. - ISSN 0168-583X. - 210:(2003), pp. 142-146. [10.1016/S0168-583X(03)01085-1]
Titolo: | Status of the ion electron emission microscope at the SIRAD single event facility | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2003 | |
Rivista: | ||
Handle: | http://hdl.handle.net/11577/2470032 | |
Appare nelle tipologie: | 01.01 - Articolo in rivista |
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