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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
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Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
---|---|---|---|---|---|
WOCSEMMAD Report of Wocsdice | 2012 | MENEGHESSO, GAUDENZIO | - | - | - |
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Tipologia
- 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 671
- 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 671
Data di pubblicazione
- 2020 - 2023 107
- 2010 - 2019 337
- 2000 - 2009 184
- 1992 - 1999 43
Editore
- Institute of Electrical and Elect... 35
- SPIE 33
- IEEE 22
- SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 7
- IEEE Institute of Electrical and ... 5
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 5
- IEEE / Institute of Electrical an... 4
- Gaudenzio Meneghesso 3
- IEEE Computer Society 2
Rivista
- PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
- IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 6
- PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 5
- AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
- PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
- PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
- IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
- TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
- PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
- PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
- reliability 172
- HEMT 156
- degradation 152
- Gallium Nitride 140
- Charge Trapping 66
- light emitting diodes 65
- InGaN 49
- Electrostatic discharge (ESD) 36
- MEMS 32
- Gallium Arsenide 31
Lingua
- eng 649
- ita 4
- jpn 1
Accesso al fulltext
- no fulltext 670
- open 1