Impact of bias conditions on electrical stress and ionizing radiation effects in Si-based TFETs
DING, LILI;GERARDIN, SIMONE;BAGATIN, MARTA;PACCAGNELLA, ALESSANDRO
2016
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.