GASPERIN, ALBERTO
GASPERIN, ALBERTO
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Role of Oxide/Nitride Interface Traps on the Nanocrystal Memory Characteristics
2007 Gasperin, Alberto; Cester, Andrea; Wrachien, Nicola; Paccagnella, Alessandro; C., Gerardi; V., Ancarani
Total Ionizing Dose Effects on 4Mbit Phase Change Memory Arrays
2007 Gasperin, Alberto; Wrachien, Nicola; Cester, Andrea; Paccagnella, Alessandro; F., Ottogalli; U., Corda; P., Fuochi; M., Lavalle
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Role of Oxide/Nitride Interface Traps on the Nanocrystal Memory Characteristics | 2007 | GASPERIN, ALBERTOCESTER, ANDREAWRACHIEN, NICOLAPACCAGNELLA, ALESSANDRO + | - | - | Proceedings of IEEE - International Reliability Physics Symposium - IRPS 2007 |
Total Ionizing Dose Effects on 4Mbit Phase Change Memory Arrays | 2007 | GASPERIN, ALBERTOWRACHIEN, NICOLACESTER, ANDREAPACCAGNELLA, ALESSANDRO + | - | ESA SP | Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2007. |