PANTANO, DEVIS
PANTANO, DEVIS
Settore Laboratori di ricerca "Progetti Speciali e area Officine"-DFA
A 110 nm CMOS process for fully-depleted pixel sensors
2019 Pancheri, L.; Olave, J.; Panati, S.; Rivetti, A.; Cossio, F.; Rolo, M.; Demaria, N.; Giubilato, P.; Pantano, D.; Mattiazzo, S.
A new test methodology for an exhaustive study of single-event-effects on power MOSFETs
2011 G., Busatto; Bisello, Dario; G., Currò; Giubilato, Piero; F., Iannuzzo; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; A., Sanseverino; Silvestrin, Luca; M., Tessaro; F., Velardi; J., Wyss
A novel sensor for ion electron emission microscopy
2004 Bisello, Dario; DAL MASCHIO, Marco; Giubilato, Piero; Kaminsky, A; Nigro, Massimo; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Tessaro, M; Wyss, J.
A time-resolved IBICC experiment using the IEEM of the SIRAD facility
2012 Silvestrin, Luca; Bisello, Dario; G., Busatto; Giubilato, Piero; F., Iannuzzo; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; A., Sanseverino; M., Tessaro; F., Velardi; J., Wyss
ADVANCED PROTON IMAGING IN COMPUTED TOMOGRAPHY
2015 Mattiazzo, Serena; Bisello, Dario; Giubilato, Piero; Pantano, Devis; Pozzobon, Nicola; W., Snoeys; Wyss, Jeffery
Calorimeter prototyping for the iMPACT project pCT scanner
2019 Pozzobon, N.; Baruffaldi, F.; Bisello, D.; Bonini, C.; Di Ruzza, B.; Giubilato, P.; Mattiazzo, S.; Pantano, D.; Silvestrin, L.; Snoeys, W.; Wyss, J.
CDF run IIb silicon detector: Electrical performance and deadtime-less operation
2004 T., Akimoto; M., Aoki; P., Azzi; N., Bacchetta; S., Behari; D., Benjamin; Bisello, Dario; G., Bolla; D., Bortoletto; Busetto, Giovanni; S., Cabrera; A., Canepa; G., Cardoso; M., Chertok; C. I., Ciobanu; G., Derylo; I., Fang; E. J., Feng; J. P., Fernandez; B., Flaugher; J., Freeman; L., Galtieri; J., Galyardt; M., Garcia Sciveres; G., Giurgiu; C., Haber; D., Hale; K., Hara; R., Harr; C., Hill; J., Hoff; B., Holbrook; S. C., Hong; M., Hrycyk; T. H., Hsiung; J., Incandela; E. J., Jeon; K. K., Joo; T., Junk; H., Kahkola; S., Karjalainen; S., Kim; K., Kobayashi; D. J., Kong; B., Krieger; M., Kruse; N., Kuznetsova; S., Kyre; R., Lander; T., Landry; R., Lauhakangas; J., Lee; R. S., Lu; P., Lujan; P., Lukens; E., Mandelli; C., Manea; P., Maksimovic; P., Merkel; S. N., Min; S., Moccia; I., Nakano; T., Nelson; B., Nord; J., Novak; T., Okusawa; R., Orava; Y., Orlov; K., Osterberg; Pantano, Devis; V., Pavlicek; D., Pellett; J., Pursley; R., Riipinen; B., Schuyler; A., Shenai; A., Soha; D., Stuart; R., Tanaka; M., Tavi; H. V., Der; J. P., Walder; Z., Wang; M., Weber; W., Wester; K., Yamamoto; Y. C., Yang; W., Yao; W., Yao; R., Yarema; J. C., Yun; F., Zetti; T., Zimmerman; S., Zimmermann; S., Zucchelli
CDF run IIb silicon: Design and testing
2004 R. S., Lu; T., Akimoto; M., Aoki; P., Azzi; N., Bacchetta; S., Behari; D., Benjamin; Bisello, Dario; G., Bolla; D., Bortoletto; Busetto, Giovanni; S., Cabrera; A., Canepa; G., Cardoso; M., Chertok; C. I., Ciobanu; G., Derylo; I., Fang; E. J., Feng; J. P., Fernandez; B., Flaugher; J., Freeman; L., Galtieri; J., Galyardt; M., Garcia Sciveres; G., Giurgiu; C., Haber; D., Hale; K., Hara; R., Harr; C., Hill; J., Hoff; B., Holbrook; S. C., Hong; M., Hrycyk; T. H., Hsiung; J., Incandela; E. J., Jeon; K. K., Joo; T., Junk; H., Kahkola; S., Karjalainen; S., Kim; K., Kobayashi; D. J., Kong; B., Krieger; M., Kruse; N., Kuznetsova; S., Kyre; R., Lander; T., Landry; R., Lauhakangas; J., Lee; R. J., Lujan; P., Lukens; E., Mandelli; C., Manea; P., Maksimovic; P., Merkel; S. N., Min; S., Moccia; I., Nakano; T., Nelson; B., Nord; J., Novak; T., Okusawa; R., Orava; Y., Orlov; K., Osterberg; Pantano, Devis; V., Pavlicek; D., Pellett; J., Pursley; P., Riipinen; B., Schuyler; A., Shenai; A., Soha; D., Stuart; R., Tanaka; M., Tavi; H. V., Der; J. P., Walder; Z., Wang; M., Weber; W., Wester; K., Yamamoto; Y. C., Yang; W., Yao; W., Yao; R., Yarema; J. C., Yun; F., Zetti; T., Zimmerman; S., Zimmermann; S., Zucchelli
Characterisation of a pixel sensor in SOI technology for charged particle tracking
2011 Marco, Battaglia; Bisello, Dario; Devis, Contarato; Peter, Denes; Giubilato, Piero; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; Sarah, Zalusky
Characterisation of a thin fully depleted SOI pixel sensor with high momentum charged particles
2012 Marco, Battaglia; Bisello, Dario; Devis, Contarato; Peter, Denes; Giubilato, Piero; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis
Characterisation of a thin, fully-depleted, back-illuminated SOI pixel sensor with soft X-ray radiation
2011 Marco, Battaglia; Bisello, Dario; Richard, Celestre; Devis, Contarato; Peter, Denes; Giubilato, Piero; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; Craig, Tindall
CMOS sensors in 90nm fabricated on high resistivity wafers: Design concept and irradiation results
2013 A., Rivetti; M., Battaglia; Bisello, Dario; M., Caselle; P., Chalmet; M., Costa; N., Demaria; Giubilato, Piero; Y., Ikemoto; K., Kloukinas; C., Mansuy; A., Marchioro; H., Mugnier; Pantano, Devis; A., Potenza; J., Rousset; Silvestrin, Luca; J., Wyss
Design and characterization of novel monolithic pixel sensors for the ALICE ITS upgrade
2014 Cavicchioli, C.; Chalmet, P. L.; Giubilato, P.; Hillemanns, H.; Junique, A.; Kugathasan, T.; Mager, M.; Marin Tobon, C. A.; Martinengo, P.; Mattiazzo, S.; Mugnier, H.; Musa, L.; Pantano, D.; Rousset, J.; Reidt, F.; Riedler, P.; Snoeys, W.; Van Hoorne, J. W.; Yang, P.
Design of a 10-bit segmented current-steering digital-to-analog converter in CMOS 65 nm technology for the bias of new generation readout chips in high radiation environment
2016 Robertis, G. De; Loddo, F; Mattiazzo, Serena; Pacher, L.; Pantano, Devis; Tamma, C.
Electrical characteristics of Metal-Resistive layer-Silicon (MRS) avalanche detectors
1995 Bisello, Dario; Paccagnella, Alessandro; Pantano, Devis; Y., Gotra; N., Malakhov; V., Jejer; V., Kushpil; Z., Sadygov
First results in micromapping the sensitivity to SEE of an electronic device in a SOI technology at the LNL IEEM
2011 Mattiazzo, Serena; Bisello, Dario; Giubilato, Piero; A., Kaminsky; Pantano, Devis; Silvestrin, Luca; M., Tessaro; J., Wyss
Flexible DAQ system for pixel detectors
2008 M., Battaglia; Bisello, Dario; D., Contarato; Giubilato, Piero; Pantano, Devis; T., Tanabe; M., Tessaro
Heavy-Ions induced SEE effects measurements for the STRURED ASIC
2011 G., De Robertis; A., Ranieri; A., Gabrielli; Candelori, Andrea; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; M., Tessaro
iMPACT: An Innovative Tracker and Calorimeter for Proton Computed Tomography
2018 Mattiazzo, Serena; Baruffaldi, Filippo; Bisello, Dario; DI RUZZA, Benedetto; Giubilato, Piero; Roberto, Iuppa; Chiara La Tessa, ; Pantano, Devis; Pozzobon, Nicola; Ester, Ricci; Walter, Snoeys; Wyss, Jeffery
iMPACT: An Innovative Tracker and Calorimeter for Proton Computed Tomography
2018 Mattiazzo, Serena; Baruffaldi, Filippo; Bisello, Dario; Di Ruzza, Benedetto; Giubilato, Piero; Iuppa, Roberto; La Tessa, Chiara; Pantano, Devis; Pozzobon, Nicola; Ricci, Ester; Snoeys, Walter; Wyss, Jeffery