Effects of thermal and electrical stress on DH4T-based organic thin-film-transistors with PMMA gate dielectrics / Wrachien, Nicola; Lago, Nicolo'; Rizzo, Antonio; D'Alpaos, R.; Stefani, A.; Turatti, G.; Muccini, M.; Meneghesso, Gaudenzio; Cester, Andrea. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 55:9-10(2015), pp. 1790-1794.
Titolo: | Effects of thermal and electrical stress on DH4T-based organic thin-film-transistors with PMMA gate dielectrics |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2015 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11577/3182765 |
Appare nelle tipologie: | 01.01 - Articolo in rivista |
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