Evidence of mechanical degradation in microelectromechanical switches subjected to long-Term stresses

BARBATO, MARCO;BARBATO, ALESSANDRO;Silvestrini, Matteo;CESTER, ANDREA;MENEGHESSO, GAUDENZIO
2017
2017
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2017 International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017
WOS:000416068500128
2-s2.0-85024395968
9781509066407
04.01 - Contributo in atti di convegno
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