24 Hours Stress Test and Failure Analysis of 0.25 μm AlGaN/GaN HEMTs

M. Rzin;F. Rampazzo;M. Meneghini;G. Meneghesso;E. Zanoni
2018
2018
Proceedings of the 9th Wide Bandgap Semiconductor and Components workshop
04.01 - Contributo in atti di convegno
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