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Hot carrier aging degradation phenomena in GaN based MESFETs
2004 Rampazzo, Fabiana; Pierobon, Roberto; Pacetta, Domenico; C., Gaquiere; D., Theron; B., Boudart; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs
2004 Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Pacetta, Domenico; C., Gaquiere; D., Theron; B., Boudart; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Hot carrier aging degradation phenomena in GaN based MESFETs | 2004 | RAMPAZZO, FABIANAPIEROBON, ROBERTOPACETTA, DOMENICOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + | MICROELECTRONICS RELIABILITY | - | - |
Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs | 2004 | PIEROBON, ROBERTORAMPAZZO, FABIANAPACETTA, DOMENICOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + | - | - | - |
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