Padua Research Archive, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Università degli Studi di Padova, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ateneo. Padua Research Archive utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

PIEROBON, ROBERTO

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	Titolo	Data di pubblicazione	Autori	Rivista	Titolo libro
1	Method for generating an atmospheric plasma jet and atmospheric plasma minitorch device	2015	PATELLI, ALESSANDRO ; Verga, FALZACAPPA Emanuele; Scopece, Paolo; PIEROBON, ROBERTO ; VEZZU', SIMONE
2	A new combined process based on MWCNT spray deposition and atmospheric pressure plasma jet fixing for large scale production of transparent and flexible conductive coatings	2013	Scopece, Paolo; Maistro, Giulio; PATELLI, ALESSANDRO ; MENEGHETTI, MORENO ; Vascotto, Veronica; SCHIAVUTA, PIERO ; PIEROBON, ROBERTO		Proceedings - International Symposium on Advanced Packaging Materials
3	Dall’evoluzione in vitro alle nanotecnologie: gli aptameri come biosensori	2012	GATTO, BARBARA ; PIEROBON, ROBERTO	GALILEO
4	Influence of gate-leakage current on drain current collapse of unpassivated GaN/AlGaN/GaN high electron mobility transistors	2005	KORDOS P.; BERNAT J.; MARSO M.; LUTH H.; RAMPAZZO, FABIANA ; TAMIAZZO, GIANLUCA ; PIEROBON, ROBERTO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO	APPLIED PHYSICS LETTERS
5	Hot Electron stress on unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs	2005	RAMPAZZO, FABIANA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; PIEROBON, ROBERTO ; TAMIAZZO, GIANLUCA ; ZANONI, ENRICO ; P. KORDOS; J. BERNAT
6	Temperature stability of Breakdown Voltage on SiC power Schottky diodes with different barrier heights	2005	PIEROBON, ROBERTO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; F. ROCCAFORTE; F. LA VIA; V. RAINERI	MATERIAL SCIENCE FORUM
7	Low Current Dispersion and Low Bias-Stress Degradation of Unpassivated GaN/AlGaN/GaN/SiC HEMTs	2005	J. BERNAT; PIEROBON, ROBERTO ; M. MARSO; G. BRANDES; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; P. KORDOS	PHYSICA STATUS SOLIDI C
8	Hot-electron-stress degradation in unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs on SiC	2005	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; TAMIAZZO, GIANLUCA ; ZANONI, ENRICO ; J. BERNAT; P. KORDOS; A. F. BASILE; A. CHINI; G. VERZELLESI
9	Reliability aspects of GaN microwave devices	2004	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; G. Verzellesi; PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; CHINI, ALESSANDRO ; ZANONI, ENRICO
10	Temperature stability of Breakdown Voltage on SiC power Schottky diodes with different barrier heights	2004	PIEROBON, ROBERTO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; F. Roccaforte; F. La Via; V. Raineri
11	Electrical characterization of inhomogeneous Ni2Si/SiC Schottky contacts	2004	F. Roccaforte; F. L. Via; V. Raineri; PIEROBON, ROBERTO ; ZANONI, ENRICO
12	Hot carrier aging degradation phenomena in GaN based MESFETs	2004	RAMPAZZO, FABIANA ; PIEROBON, ROBERTO ; PACETTA, DOMENICO ; C. GAQUIERE; D. THERON; B. BOUDART; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
13	Surface Related Drain Current Dispersion Effects in AlGaN/GaN HEMTs	2004	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; VERZELLESI G; PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; CHINI A; MISHRA UK; CANALI C; ZANONI, ENRICO	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
14	Unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs with very low DC to RF drain current dispersion	2004	PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; CORRADINI, LUCA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; J. BERNT; M. MARSO AND P. KORDOS
15	Study of breakdown dynamics in InAlAs/InGaAs/InP HEMTs with gate length scaling down to 80 nm	2004	PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; CLONFERO F.; DE PELLEGRIN T.; BERTAZZO M.; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; SUEMITSU T.; ENOKI T.; ZANONI, ENRICO
16	Experimental and Simulated Gate Lag Transients in Unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs	2004	PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; J. BERNAT; M. MARSO; P. KORDOS; A. F. BASILE; G. VERZELLESI
17	Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs	2004	PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; PACETTA, DOMENICO ; C. GAQUIERE; D. THERON; B. BOUDART; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO
18	Performance Evaluation of a Schottky SiC Power Diode in a Boost PFC Application	2003	SPIAZZI, GIORGIO ; BUSO, SIMONE ; M. CITRON; PIEROBON, ROBERTO ; M. CORRADIN	IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
19	Current Collapse in AlGaN/GaN HEMT's analyzed by means of 2D device simulation	2003	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; G. VERZELLESI; PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; A. CHINI; C. CANALI; ZANONI, ENRICO
20	Instabilities and degradation in GaN-based devices	2003	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; G. VERZELLESI; PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; CHINI, ALESSANDRO ; ZANONI, ENRICO

Dettaglio

Nome completo:

PIEROBON, ROBERTO