PIEROBON, ROBERTO
PIEROBON, ROBERTO
Characterization of Schottky SiC Diodes for Power Applications
2001 Pierobon, Roberto; Buso, Simone; Citron, Massimiliano; Meneghesso, Gaudenzio; Spiazzi, Giorgio; Zanoni, Enrico
Schottky SiC Diodes in Power Switching Applications
2002 Pierobon, Roberto; Buso, Simone; Citron, Massimiliano; Meneghesso, Gaudenzio; Spiazzi, Giorgio; Zanoni, Enrico
Performance evaluation of a Shottcky SiC power diode in a boost PFC application
2002 Spiazzi, G.; Buso, S.; Corradin, M.; Pierobon, R.
Schottky SiC Diodes in Power Applications
2002 Pierobon, Roberto; Meneghesso, Gaudenzio; Buso, Simone; Citron, Massimiliano; Spiazzi, Giorgio; Zanoni, Enrico
Degradation mechanisms of GaN-based LEDs after accelerated DC current aging
2002 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; A., Cavallini; A., Castaldini; G., Scamarcio; S., Du; I., Eliashevich
Experimental/Numerical Investigation on Current Collapse in AlGaN/GaN HEMT's
2002 G., Verzellesi; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Chini, Alessandro; Buttari, Dario; U. K., Mishra; C., Canali; Zanoni, Enrico
Reliability analysis of Gan-Based LEDs for solid state illumination
2003 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; A., Cavallini; M., Manfredi; S., Du; AND I., Eliashevich
Reliability aspects of GaN microwave devices
2003 Meneghesso, Gaudenzio; G., Verzellesi; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Chini, Alessandro; Zanoni, Enrico
Performance Evaluation of a Schottky SiC Power Diode in a Boost PFC Application
2003 Spiazzi, Giorgio; Buso, Simone; M., Citron; Pierobon, Roberto; M., Corradin
Current Collapse in AlGaN/GaN HEMT's analyzed by means of 2D device simulation
2003 Meneghesso, Gaudenzio; G., Verzellesi; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; A., Chini; C., Canali; Zanoni, Enrico
RF Frequency dispersion and frequency dependence of breakdown phenomena in InAlAs/InGaAs/InP HEMTs
2003 Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; T., Suemitsu; T., Enoki
Frequency transconductance and Gate-Lag dispersion in InAlAs/InGaAs/InP HEMTs
2003 Meneghesso, Gaudenzio; Rampazzo, Fabiana; G., Schenato; L., Cecchetto; Pierobon, Roberto; Zanoni, Enrico; T., Suemitsu; T., Enoki
Defect diagnostics of degradation mechanisms of GaN-based LEDs after accelerated DC current ageing
2003 A., Cavallini; A., Castaldini; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; G., Scamarcio; S., Du; I., Eliashevich
Reliability analysis of GaN-Based LEDs for solid state illumination
2003 Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Zanoni, Enrico; A., Cavallini; M., Manfredi; S., Du; I., Eliashevich
Instabilities and degradation in GaN-based devices
2003 Meneghesso, Gaudenzio; G., Verzellesi; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Chini, Alessandro; Zanoni, Enrico
Reliability aspects of GaN microwave devices
2004 Meneghesso, Gaudenzio; G., Verzellesi; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Chini, Alessandro; Zanoni, Enrico
Unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs with very low DC to RF drain current dispersion
2004 Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Corradini, Luca; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; J., Bernt; M. MARSO AND P., Kordos
Study of breakdown dynamics in InAlAs/InGaAs/InP HEMTs with gate length scaling down to 80 nm
2004 Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Clonfero, F.; DE PELLEGRIN, T.; Bertazzo, M.; Meneghesso, Gaudenzio; Suemitsu, T.; Enoki, T.; Zanoni, Enrico
Hot carrier aging degradation phenomena in GaN based MESFETs
2004 Rampazzo, Fabiana; Pierobon, Roberto; Pacetta, Domenico; C., Gaquiere; D., Theron; B., Boudart; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Surface Related Drain Current Dispersion Effects in AlGaN/GaN HEMTs
2004 Meneghesso, Gaudenzio; Verzellesi, G; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Chini, A; Mishra, Uk; Canali, C; Zanoni, Enrico