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The SIRAD irradiation facility at LNL
2013 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Giubilato, Piero; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; Silvestrin, Luca; M., Tessaro; J., Wyss
Radiation tolerance of a moderate resistivity substrate in a modern CMOS process
2013 Potenza, ; Bisello, Dario; M., Caselle; M., Costa; N., Demaria; Giubilato, Piero; Y., Ikemoto; C., Mansuy; A., Marchioro; Mattiazzo, Serena; M., Moll; L., Pacher; N., Pacifico; D., Pantano; A., Rivetti; Silvestrin, Luca; W., Snoeys
CMOS sensors in 90nm fabricated on high resistivity wafers: Design concept and irradiation results
2013 A., Rivetti; M., Battaglia; Bisello, Dario; M., Caselle; P., Chalmet; M., Costa; N., Demaria; Giubilato, Piero; Y., Ikemoto; K., Kloukinas; C., Mansuy; A., Marchioro; H., Mugnier; Pantano, Devis; A., Potenza; J., Rousset; Silvestrin, Luca; J., Wyss
Monolithic pixels on moderate resistivity substrate and sparsifying readout architecture
2013 Giubilato, Piero; M., Battaglia; Bisello, Dario; M., Caselle; P., Chalmet; L., Demaria; Y., Ikemoto; K., Kloukinas; S. C., Mansuy; Mattiazzo, Serena; A., Marchioro; H., Mugnier; Pantano, Devis; A., Potenza; A., Rivetti; J., Rousset; Silvestrin, Luca; W., Snoeys
Status and prospects of the SIRAD irradiation facility for radiation effects studies at LNL2013 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)
2013 Silvestrin, Luca; Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Giubilato, Piero; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; M., Tessaro; J., Wyss
Neutron production targets for a new Single Event Effects facility at the 70 MeV Cyclotron of LNL-INFN
2012 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Natalia, Dzysiuk; Juan, Esposito; Pierfrancesco, Mastinu; Mattiazzo, Serena; Gianfranco, Prete; Silvestrin, Luca; Jeffery, Wyss
A time-resolved IBICC experiment using the IEEM of the SIRAD facility
2012 Silvestrin, Luca; Bisello, Dario; G., Busatto; Giubilato, Piero; F., Iannuzzo; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; A., Sanseverino; M., Tessaro; F., Velardi; J., Wyss
Radiation tolerance of a moderate resistivity substrate in a modern CMOS process
2012 A., Potenza; Bisello, Dario; M., Caselle; M., Costa; N., Demaria; Giubilato, Piero; Y., Ikemoto; C., Mansuy; A., Marchioro; Mattiazzo, Serena; M., Moll; L., Pacher; N., Pacifico; Pantano, Devis; A., Rivetti; Silvestrin, Luca; W., Snoeys
LePIX: first results from a novel monolithic pixel sensor
2012 Mattiazzo, Serena; M., Battaglia; Bisello, Dario; M., Caselle; P., Chalmet; N., Demaria; Giubilato, Piero; Y., Ikemoto; K., Kloukinas; C., Mansuy; A., Marchioro; H., Mugnier; Pantano, Devis; A., Potenza; A., Rivetti; J., Rousset; Silvestrin, Luca; W., Snoeys; J., Wyss
Characterization of Electronic Circuits with the SIRAD IEEM: Developments and First Results
2011 Silvestrin, Luca
First results in micromapping the sensitivity to SEE of an electronic device in a SOI technology at the LNL IEEM
2011 Mattiazzo, Serena; Bisello, Dario; Giubilato, Piero; A., Kaminsky; Pantano, Devis; Silvestrin, Luca; M., Tessaro; J., Wyss
A new test methodology for an exhaustive study of single-event-effects on power MOSFETs
2011 G., Busatto; Bisello, Dario; G., Currò; Giubilato, Piero; F., Iannuzzo; Mattiazzo, Serena; Pantano, Devis; A., Sanseverino; Silvestrin, Luca; M., Tessaro; F., Velardi; J., Wyss
A new irradiation facility for neutron-induced Single Event Effect studies at LNL
2011 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; N., Dzysiuk; J., Esposito; P., Mastinu; Mattiazzo, Serena; G., Prete; Silvestrin, Luca; J., Wyss
Study of Single Event transients on the VELA ASIC, x-ray detectors FEE for new generation astronomical instruments
2011 M., Uslenghi; M., Fiorini; C., Fiorini; L., Bombelli; S., Facchinetti; A., Marone; G., Rocco; C., Vermi; Candelori, Andrea; Mattiazzo, Serena; Silvestrin, Luca; J., Wyss; S., Herrmann; G., Devita; M., Porro; A., Wassatsch; S., Incorvaia
Detection efficiency and spatial resolution of the SIRAD ion electron emission microscope
2009 Bisello, Dario; Giubilato, Piero; Kaminsky, A; Mattiazzo, Serena; Nigro, M; Pantano, D; Silvestrin, Luca; Tessaro, M; Wyss, J; Bertazzoni, S; Mongiardo, L; Salmeri, M; Salsano, A.
Ion Impact Detection and Micromapping With a SDRAM for IEEM Diagnostics and Applications
2009 Bertazzoni, S; Bisello, Dario; Giubilato, Piero; Kaminsky, A; Mattiazzo, Serena; Mongiardo, L; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Salmeri, M; Salsano, A; Silvestrin, Luca; Tessaro, M; Wyss, J.
Secondary electron yield of Au and Al2O3 surfaces from swift heavy ion impact in the 2.5-7.9 MeV/amu energy range
2008 Bisello, Dario; A., Candelori; Giubilato, Piero; A., Kaminsky; Mattiazzo, Serena; Nigro, Massimo; D., Pantano; Rando, Riccardo; Silvestrin, Luca; M., Tessaro; J., Wyss
Performance of the SIRAD ion electron emission microscope
2008 Bisello, Dario; Giubilato, Piero; Mattiazzo, Serena; Nigro, Massimo; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Silvestrin, Luca; Tessaro, M; Wyss, J.
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