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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
White-light sources based on GaN laser diodes: Analysis and application study 2018 Trivellin, NicolaYUSHCHENKO, MAKSYMBuffolo, MatteoMeneghini, MatteoMeneghesso, GaudenzioZanoni, Enrico PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Wide band gap Innovative SiC for Advanced Power (WInSiC4AP) a European project driving the future applications of SiC 2018 G. Meneghesso + - - Proceedings of the European Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2018 (ECSCRM2018)
WOCSEMMAD Report of Wocsdice 2012 MENEGHESSO, GAUDENZIO - - -
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Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 696
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 671
  • 01 CONTRIBUTO IN RIVISTA 498
  • 01 CONTRIBUTO IN RIVISTA::01.01 -... 498
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  • 05 BREVETTO::05.01 - Brevetto 3
  • 02 CONTRIBUTO IN VOLUME::02.02 - ... 1
  • 03 LIBRO 1
  • 03 LIBRO::03.01 - Monografia o tr... 1
  • 06 CURATELA 1
  • 06 CURATELA::06.01 - Curatela 1
Autore
  • ZANONI, ENRICO 968
  • MENEGHINI, MATTEO 771
  • DE SANTI, CARLO 373
  • BUFFOLO, MATTEO 157
  • TRIVELLIN, NICOLA 147
  • RAMPAZZO, FABIANA 120
  • TAZZOLI, AUGUSTO 96
  • CESTER, ANDREA 72
  • STOCCO, ANTONIO 70
  • BARBATO, MARCO 64
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 244
  • 2010 - 2019 623
  • 2000 - 2009 285
  • 1992 - 1999 71
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 83
  • Elsevier Ltd 64
  • SPIE 33
  • IEEE / Institute of Electrical an... 31
  • IEEE 29
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 28
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 21
  • Elsevier 20
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • ELSEVIER 17
Rivista
  • MICROELECTRONICS RELIABILITY 149
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 77
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 35
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 29
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 22
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 15
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHY... 9
  • MATERIALS 9
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 8
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 274
  • HEMT 257
  • degradation 236
  • Gallium Nitride 221
  • light emitting diodes 92
  • InGaN 91
  • GaN 87
  • Charge Trapping 85
  • Reliability 74
  • Electrical and Electronic Enginee... 64
Lingua
  • eng 1188
  • ita 12
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 1205
  • open 17
  • reserved 1