BUFFOLO, MATTEO
BUFFOLO, MATTEO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
A review of the reliability of integrated ir laser diodes for silicon photonics
2021 Buffolo, M.; De Santi, C.; Norman, J.; Shang, C.; Bowers, J. E.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowski, A.; Gustavsson, J.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Addressing the Optical Degradation of 1.3 μm Quantum Dot Lasers through Subthreshold Characterization
2023 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Norman, Justin; Hughes, Eamonn T.; Bowers, John E.; Herrick, Robert; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Advanced defect spectroscopy in wide-bandgap semiconductors: review and recent results
2024 Fregolent, Manuel; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Cester, Andrea; Higashiwaki, Masataka; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs
2024 Piva, F.; Buffolo, M.; Pilati, M.; Roccato, N.; Longato, S.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Aging behavior, reliability, and failure physics of GaN-based optoelectronic components
2016 Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; DE SANTI, Carlo; LA GRASSA, Marco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; Monti, Desiree
Analysis and design of SARS-CoV-2 disinfection chambers based on UVC LEDs
2022 Trivellin, N; Buffolo, M; Onelia, F; Pizzolato, A; Barbato, M; Orlandi, Vt; Del Vecchio, C; Dughiero, F; Zanoni, E; Meneghesso, G; Crisanti, A; Meneghini, M
Analysis of Current Transport Layer Localized Resistivity Increase After High Stress on InGaN LEDs
2023 Trivellin, Nicola; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Analysis of defect-related optical degradation of VCSILs for photonic integrated circuits
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; Fornasier, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowsky, A.; Gustavsson, J.; Kumari, S.; Stassren, A.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of dislocation-related and point-defects in III-As layers by extensive DLTS study
2022 Zenari, M; Buffolo, M; De Santi, C; Norman, J; Meneghesso, G; Bowers, Je; Zanoni, E; Meneghini, M
ANALYSIS OF REVERSE-BIAS STABILITY OF FAPbBr3 SEMI-TRANSPARENT PEROVSKITE SOLAR CELLS
2024 Tormena, Noah; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Matteocci, Fabio; Di Carlo, Aldo; Meneghini, Matteo
Analysis of the mechanisms limiting the reliability of retrofit LED lamps
2015 DE SANTI, Carlo; DAL LAGO, Matteo; Buffolo, Matteo; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Antimony selenide solar cells: non-ideal deep level response and study of trap-filling transients
2024 De Santi, Carlo; Barrantes, Jessica Jazmine Nicole; Piva, Francesco; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; Rampino, Stefano; Spaggiari, Giulia; Jakomin, Roberto; Pattini, Francesco; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Bias-dependent degradation of single quantum well on InGaN-based light emitting diode
2023 Casu, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Capture and emission time map to investigate the positive VTH shift in p-GaN power HEMTs
2022 Modolo, N.; Fregolent, M.; Masin, F.; Benato, A.; Bettini, A.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Borga, M.; Posthuma, N.; Bakeroot, B.; Decoutere, S.; Vogrig, D.; Neviani, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Carrier capture kinetics, deep levels, and isolation properties of β -Ga2O3Schottky-barrier diodes damaged by nitrogen implantation
2020 De Santi, C.; Fregolent, M.; Buffolo, M.; Wong, M. H.; Higashiwaki, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Catastrophic degradation of LEDs: failure analysis and perspective
2024 Trivellin, N.; Caria, A.; Huang, A.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Magnien, J.; Rosc, J.; Mura, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Challenges and perspectives for vertical gan-on-si trench mos reliability: From leakage current analysis to gate stack optimization
2021 Mukherjee, K.; De Santi, C.; Borga, M.; Geens, K.; You, S.; Bakeroot, B.; Decoutere, S.; Diehle, P.; Hubner, S.; Altmann, F.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Challenges and Perspectives for Vertical GaN-on-Si Trench MOS Reliability: From Leakage Current Analysis to Gate Stack Optimization
2021 Mukherjee, Kalparupa; De Santi, Carlo; Borga, Matteo; Geens, Karen; You, Shuzhen; Bakeroot, Benoit; Decoutere, Stefaan; Diehle, Patrick; Hübner, Susanne; Altmann, Frank; Buffolo, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo