Towards high reliability GaN LEDs: Understanding the physical origin of gradual and catastrophic failure

MENEGHINI, MATTEO;DE SANTI, CARLO;BUFFOLO, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO
2015

2015
Proc. of 12th China International Forum on Solid State Lighting, SSLCHINA 2015
978-150900176-7
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