On trapping mechanisms at oxide-traps in Al2O3/GaN metal-oxide-semiconductor capacitors

BISI, DAVIDE;MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO;
2016
2016
APPLIED PHYSICS LETTERS
WOS:000373058400021
2-s2.0-84961677957
01.01 - Articolo in rivista
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