Field- and time-dependent degradation of GaN HEMTs

ZANONI, ENRICO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;MENEGHINI, MATTEO;ROSSETTO, ISABELLA;DE SANTI, CARLO
2016

2016
proc. of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2016,
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