Review of dynamic effects and reliability of depletion and enhancement GaN HEMTs for power switching applications
De Santi, Carlo;Meneghini, Matteo;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico
2018
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.