Gaining Insight into Performance- and Reliability-Limiting Phenomena in GaN-Based Heterostructure Field-Effect Transistors by Means of Combined Experimental/Simulation Analysis / Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Rossetto, Isabella; Zanoni, Enrico. - (2017). ((Intervento presentato al convegno 9th International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT2017) tenutosi a Suntec, Singapore nel 18-23 June 2017.
Titolo: | Gaining Insight into Performance- and Reliability-Limiting Phenomena in GaN-Based Heterostructure Field-Effect Transistors by Means of Combined Experimental/Simulation Analysis |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2017 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11577/3296388 |
Appare nelle tipologie: | 04.01 - Contributo in atti di convegno |
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