On Wafer Application Testing for 600 V E-mode GaN HEMTs in Boost Regime

A. Barbato;M. Barbato;M. Meneghini;G. Spiazzi;G. Meneghesso;E. Zanoni
2018
2018
Proceedings of the GaN Marathon 2.0
GaN Marathon 2.0
978-88-6787-916-8
04.01 - Contributo in atti di convegno
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