Scaling of E-mode power GaN-HEMTs for low voltage/low Ron applications: Implications on robustness

De Santi, Carlo;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico;Meneghini, Matteo
2023

2023
   Intelligent Reliability 4.0
   iRel40
   European Commission
   Horizon 2020 Framework Programme
   876659
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
1-s2.0-S0026271423002330-main.pdf

accesso aperto

Tipologia: Published (Publisher's Version of Record)
Licenza: Creative commons
Dimensione 760.19 kB
Formato Adobe PDF
760.19 kB Adobe PDF Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3506424
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 4
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 2
  • OpenAlex 2
social impact