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DC response, low-frequency noise, and TID-induced mechanisms in 16-nm FinFETs for high-energy physics experiments
2022 Bonaldo, S.; Ma, T.; Mattiazzo, S.; Baschirotto, A.; Enz, C.; Fleetwood, D. M.; Paccagnella, A.; Gerardin, S.
TID Degradation Mechanisms in 16-nm Bulk FinFETs Irradiated to Ultrahigh Doses
2021 Ma, T.; Bonaldo, S.; Mattiazzo, S.; Baschirotto, A.; Enz, C.; Paccagnella, A.; Gerardin, S.
1-GRad-TID Effects in 28-nm Device Study for Rad-Hard Analog Design
2020 De Matteis, Marcello; Resta, F.; Pipino, A.; Fary, F.; Mattiazzo, S.; Enz, C.; Baschirotto, A.
Ionizing-Radiation Response and Low-Frequency Noise of 28-nm MOSFETs at Ultrahigh Doses
2020 Bonaldo, S.; Mattiazzo, S.; Enz, C.; Baschirotto, A.; Fleetwood, D. M.; Paccagnella, A.; Gerardin, S.
Radiation tolerance characterization of Geiger-mode CMOS avalanche diodes for a dual-layer particle detector
2019 Musacci, M.; Bigongiari, G.; Brogi, P.; Checchia, C.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, S.; Morsani, F.; Noli, S.; Pancheri, L.; Ratti, L.; Savoy Navarro, A.; Silvestrin, L.; Stolzi, F.; Suh, J.; Sulaj, A.; Vacchi, C.; Zarghami, M.
Dark Count Rate Degradation in CMOS SPADs Exposed to X-Rays and Neutrons
2019 Ratti, L.; Brogi, P.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Lodola, L.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, S.; Morsani, F.; Musacci, M.; Pancheri, L.; Vacchi, C.
Measurements and simulations of surface radiation damage effects on IFX and HPK test structures
2019 Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Mattiazzo, S.; Dalla Betta, G. -F.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Hinger, V.; Bilei, G. M.
RD53A: a large scale prototype for HL-LHC silicon pixel detector phase 2 upgrades
2019 Monteil, Ennio; Barbero, M.; Fougeron, D.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Breugnon, P.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Krueger, H.; Hemperek, T.; Huegging, F.; Rymazewski, P.; Vogt, M.; Wang, T.; Wermes, N.; Karagounis, M.; Marzocca, C.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Stabile, A.; Frontini, L.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Gerardin, S.; Mattiazzo, S.; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Bonaldo, S.; Bacchetta, N.; Gaioni, L.; Manghisoni, M.; Re, V.; Riceputi, E.; Traversi, G.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Androsov, K.; Beccherle, R.; Magazzù, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Placidi, P.; Marconi, S.; Dellacasa, G.; Demaria, N.; Mazza, G.; Monteil, E.; Pacher, L.; Rivetti, A.; Paternò, A.; Gajanna, D.; Gromov, V.; Kluit, R.; Vitkovskiy, A.; Benka, T.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Vrba, V.; Lopez-Morillo, E.; Palomo, F. R.; Munoz, F.; Vila, I.; Jiménez, E.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Orfanelli, S.; Bell, S. J. M.; Prydderch, M.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Zimmerman, T.; Miryala, S.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Krieger, A.; Papadopoulou, K.; Heim, T.; Carney, R.; Nachman, Benjamin Philip; Renteira, C.; Wallangen, V.; Hoeferkamp, M. R.; Seidel, S.; Daas, M.; Dieter, Y.; Moustakas, K.; Stiller, A.; Lipton, R.; Liu, T. C.
Calorimeter prototyping for the iMPACT project pCT scanner
2019 Pozzobon, N.; Baruffaldi, F.; Bisello, D.; Bonini, C.; Di Ruzza, B.; Giubilato, P.; Mattiazzo, S.; Pantano, D.; Silvestrin, L.; Snoeys, W.; Wyss, J.
RD53 analog front-end processors for the ATLAS and CMS experiments at the high-luminosity LHC
2019 Gaioni, L.; Manghisoni, M.; Re, V.; Riceputi, E.; Traversi, G.; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Breugnon, P.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Le Dortz, O.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Kruger, H.; Daas, M.; Dieter, Y.; Hemperek, T.; Hugging, F.; Moustakas, K.; Pohl, D.; Rymaszewski, P.; Standke, M.; Vogt, M.; Wang, T.; Wermes, N.; Karagounis, M.; Stiller, A.; Marzocca, C.; de Robertis, G.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Stabile, A.; Frontini, L.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Gerardin, S.; Mattiazzo, S.; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Bonaldo, S.; Bacchetta, N.; della Casa, G.; Demaria, N.; Mazza, G.; Monteil, E.; Pacher, L.; Paterno, A.; Rivetti, A.; da Rocha Rolo, M. D.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Androsov, K.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Passeri, D.; Placidi, P.; Gajanana, D.; Gromov, V.; van Eijk, B.; Kluit, R.; Vitkovskiy, A.; Benka, T.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Vrba, V.; Vila, I.; Jimenez, E. M. S.; Lopez-Morillo, E.; Palomo, F. R.; Munoz, F.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Emriskova, N.; Orfanelli, S.; Marconi, S.; Jara Casas, L. M.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Miryala, S.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Krieger, A.; Papadopoulou, K.; Heim, T.; Dimitrievska, A.; Carney, R.; Nachman, B.; Renteira, C.; Wallangen, V.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.
A 110 nm CMOS process for fully-depleted pixel sensors
2019 Pancheri, L.; Olave, J.; Panati, S.; Rivetti, A.; Cossio, F.; Rolo, M.; Demaria, N.; Giubilato, P.; Pantano, D.; Mattiazzo, S.
Test results and prospects for RD53A, a large scale 65 nm CMOS chip for pixel readout at the HL-LHC
2019 Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Breugnon, P.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Le Dortz, O.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Krüger, H.; Daas, M.; Dieter, Y.; Hemperek, T.; Hügging, F.; Moustakas, K.; Pohl, D.; Rymaszewski, P.; Standke, M.; Vogt, M.; Wang, T.; Wermes, N.; Karagounis, M.; Stiller, A.; Marzocca, C.; De Robertis, G.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Stabile, A.; Frontini, L.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Gerardin, S.; Mattiazzo, S.; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Bonaldo, S.; Bacchetta, N.; Gaioni, L.; De Canio, F.; Manghisoni, M.; Re, V.; Riceputi, E.; Traversi, G.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Androsov, K.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Marconi, S.; Placidi, P.; Dellacasa, G.; Demaria, N.; Mazza, G.; Monteil, E.; Pacher, L.; Paternò, A.; Rivetti, A.; Da Rocha Rolo, M. D.; Gajanana, D.; Gromov, V.; van Eijk, B.; Kluit, R.; Vitkovskiy, A.; Benka, T.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Vrba, V.; Lopez-Morillo, E.; Palomo, F. R.; Muñoz, F.; Vila, I.; Jiménez, E. M. S.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Orfanelli, S.; Jara Casas, L. M.; Conti, E.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Miryala, S.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Krieger, A.; Papadopoulou, K.; Heim, T.; Carney, R.; Nachman, B.; Renteira, C.; Wallangen, V.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.
Analysis of surface radiation damage effects at HL-LHC fluences: Comparison of different technology options
2019 Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Mattiazzo, S.; Betta, G. -F. D.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Konig, A.; Hinger, V.; Bilei, G. M.
Influence of Halo Implantations on the Total Ionizing Dose Response of 28-nm pMOSFETs Irradiated to Ultrahigh Doses
2019 Bonaldo, S.; Mattiazzo, S.; Enz, C.; Baschirotto, A.; Paccagnella, A.; Jin, X.; Gerardin, S.
Characterization and Modeling of Gigarad-TID-Induced Drain Leakage Current of 28-nm Bulk MOSFETs
2019 Zhang, C. -M.; Jazaeri, F.; Borghello, G.; Faccio, F.; Mattiazzo, S.; Baschirotto, A.; Enz, C.
Mobility Degradation of 28-nm Bulk MOSFETs Irradiated to Ultrahigh Total Ionizing Doses
2018 Zhang, Cm; Jazaeri, F; Borghello, G; Mattiazzo, S; Baschirotto, A; Enz, C
iMPACT: An Innovative Tracker and Calorimeter for Proton Computed Tomography
2018 Mattiazzo, Serena; Baruffaldi, Filippo; Bisello, Dario; DI RUZZA, Benedetto; Giubilato, Piero; Roberto, Iuppa; Chiara La Tessa, ; Pantano, Devis; Pozzobon, Nicola; Ester, Ricci; Walter, Snoeys; Wyss, Jeffery
Progressive drain damage in SiC power MOSFETs exposed to ionizing radiation
2018 Abbate, C.; Busatto, G.; Mattiazzo, S.; Sanseverino, A.; Silvestrin, L.; Tedesco, D.; Velardi, F.
Bias Dependence of Total Ionizing Dose Effects on 28-nm Bulk MOSFETs
2018 Zhang, C. -M.; Jazaeri, F.; Borghello, G.; Mattiazzo, S.; Baschirotto, A.; Enz, C.
MATISSE: a Low Power Front-End Electronics for MAPS Characterization
2018 Olave, Elias Jonhatan; Mattiazzo, Serena; Panati, Serena; Cossio, Fabio; Rivetti, Angelo; Pantano, Devis; Demaria, Natale; Pancheri, Lucio; Giubilato, Piero; Da Rocha Rolo, Manuel Dionisio
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