Deep Levels Characterization by Means of Drain Current Transient in AlGaN/GaN HEMT Devices

BISI, DAVIDE;STOCCO, ANTONIO;RAMPAZZO, FABIANA;MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO;
2013
2013
37th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe (WOCSDICE 2013)
9783000414350
04.01 - Contributo in atti di convegno
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