A novel high voltage and high speed measurement system for dynamic RON measurements in GaN‐based high mobility transistors (HEMTs)

BARBATO, ALESSANDRO;ROSSETTO, ISABELLA;BARBATO, MARCO;MENEGHINI, MATTEO;ZANONI, ENRICO;MENEGHESSO, GAUDENZIO
2016

2016
Proc. of 40th WOCSDICE ‐ Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe
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