Gate Reliability of p-GaN Gate AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors
Ruzzarin, Maria;De Santi, Carlo;Meneghini, Matteo;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico
2019
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2019 Ge EDL Gate Reliability of p-GaN Gate AlGaN-GaN High Electron Mobility Transistors.pdf
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