Hot-Electron Effects in GaN GITs and HD-GITs: A Comprehensive Analysis

Fabris E.;Meneghini M.;De Santi C.;Borga M.;Meneghesso G.;Zanoni E.;
2019
2019
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
WOS:000474762500058
2-s2.0-85066755398
978-1-5386-9504-3
04.01 - Contributo in atti di convegno
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