Degradation mechanisms of InAs quantum dot 1.3μm laser diodes epitaxially grown on silicon

Buffolo M.;Samparisi F.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2019
2019
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
WOS:000473069200014
2-s2.0-85065662351
9781510625204
9781510625211
04.01 - Contributo in atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3305190
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact