SAMPARISI, FABIO
SAMPARISI, FABIO
Università di Padova
Comparison between classical and off-plane diffraction efficiency for the soft x-ray region
2019 Fabris, Nicola; Frassetto, Fabio; Miotti, Paolo; Samparisi, Fabio; Spezzani, Carlo; Zuppella, Paola; Poletto, Luca
Degradation mechanisms of heterogeneous III-V/Silicon loop-mirror laser diodes for photonic integrated circuits
2018 Buffolo, M.; Pietrobon, Marika; De Santi, C.; Samparisi, Fabio; Davenport, M. L.; Bowers, J. E.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation mechanisms of InAs quantum dot 1.3μm laser diodes epitaxially grown on silicon
2019 Buffolo, M.; Samparisi, F.; De Santi, C.; Jung, D.; Norman, J.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Demonstration of current-dependent degradation of quantum-dot lasers grown on silicon: Role of defect diffusion processes
2020 Buffolo, M.; Samparisi, F.; De Santi, C.; Jung, D.; Norman, J.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Investigation of Current-Driven Degradation of 1.3 μm Quantum-Dot Lasers Epitaxially Grown on Silicon
2020 Buffolo, M.; Samparisi, F.; Rovere, L.; De Santi, C.; Jung, D.; Norman, J.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Physical origin of the optical degradation of InAs quantum dot lasers
2019 Buffolo, M.; Samparisi, F.; De Santi, C.; Jung, D.; Norman, J.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Realization of a Cost-Effective Deformable Grating for the Extreme-Ultraviolet
2022 Samparisi, F; Frassetto, F; Zeni, G; Vanzo, A; Bonora, S; Zuppella, P; Poletto, L
Strumentazione per polarimetria e spettroscopia nell'estremo ultravioletto.
2022 Samparisi, Fabio
Transition metal coatings for reflection polarimeters in the 50-100 eV region
2019 Frassetto, Fabio; Zuppella, Paola; Samparisi, Fabio; Fabris, Nicola; Poletto, Luca