Study of trapping in GaN-based power HEMTs based on High-Voltage Double-Pulsed Backgating Measurement System

Maria Ruzzarin;Alessandro Barbato;Matteo Meneghini;Isabella Rossetto;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni
2017

Proceedings of the 41th WOCSDICE - Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2017
978-84-16989-68-3
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