A Novel System to Measure the Dynamic On‑Resistance of On‑Wafer 600 V Normally-Off GaN HEMTs in Real Application Conditions

Alessandro Barbato;M. Barbato;M. Meneghini;M. Silvestri;G. Meneghesso;E. Zanoni
2017

Proceedings of the 41th WOCSDICE - Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2017
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