Buffer-induced vertical leakage and charge trapping in normally-off GaN-on-Si HEMTs

M. Borga;M. Meneghini;I. Rossetto;M. Silvestri;G. Meneghesso;E. Zanoni
2017

Proceedings of the 41th WOCSDICE - Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2017
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