Demonstration of Bilayer Gate Insulator for Improved Reliability in GaN-on-Si Vertical Transistors

Mukherjee, Kalparupa;De Santi, Carlo;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico;Meneghini, Matteo;Borga, Matteo;
2020
2020
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
WOS:000612717200095
2-s2.0-85088371632
978-1-7281-3199-3
04.01 - Contributo in atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3344621
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 3
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact