Demonstration of Bilayer Gate Insulator for Improved Reliability in GaN-on-Si Vertical Transistors

Mukherjee, Kalparupa;De Santi, Carlo;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico;Meneghini, Matteo;Borga, Matteo;
2020

2020
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2020
978-1-7281-3199-3
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