Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations

Zenari, M.;Buffolo, M.;De Santi, C.;Meneghesso, G.;Zanoni, E.;Meneghini, M.
2023
2023
Proceedings of 2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)
2-s2.0-85175196116
979-8-3503-1429-8
04.01 - Contributo in atti di convegno
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