Physical Modelling of Charge Trapping Effects

Buffolo, Matteo;De Santi, Carlo;Meneghesso, Gaudenzio;Meneghini, Matteo;Zanoni, Enrico;Chini, Alessandro;
2024
2024
Modeling of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors
9789819775057
9789819775064
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