Dalapati, Pradip
Dalapati, Pradip
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Mostra
records
Risultati 1 - 3 di 3 (tempo di esecuzione: 0.005 secondi).
Reliability of Ultraviolet Light-Emitting Diodes
2019 De Santi, C.; Monti, D.; Dalapati, Pradip; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Demonstration of band-to-band tunneling and avalanche regime in InGaN LEDs
2019 Renso, N.; De Santi, C.; Dalapati, P.; Monti, D.; Binder, M.; Galler, B.; Zeisel, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Evidence for avalanche generation in reverse-biased InGaN LEDs
2019 Renso, N.; De Santi, C.; Dalapati, P.; Monti, D.; Binder, M.; Galler, B.; Zeisel, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
|---|---|---|---|---|---|
| Reliability of Ultraviolet Light-Emitting Diodes | 2019 | C. De SantiD. MontiDalapati, PradipM. MeneghiniG. MeneghessoE. Zanoni | - | - | Solid State Lighting Technology and Application Series |
| Demonstration of band-to-band tunneling and avalanche regime in InGaN LEDs | 2019 | N. RensoC. De SantiP. DalapatiD. MontiG. MeneghessoE. ZanoniM. Meneghini + | - | - | Proceedings of the 13th International Conference on Nitride Semiconductors 2019 (ICNS-13) |
| Evidence for avalanche generation in reverse-biased InGaN LEDs | 2019 | Renso N.De Santi C.Dalapati P.Monti D.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + | - | PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |