Dalapati, Pradip
Dalapati, Pradip
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
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Demonstration of band-to-band tunneling and avalanche regime in InGaN LEDs
2019 Renso, N.; De Santi, C.; Dalapati, P.; Monti, D.; Binder, M.; Galler, B.; Zeisel, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Evidence for avalanche generation in reverse-biased InGaN LEDs
2019 Renso, N.; De Santi, C.; Dalapati, P.; Monti, D.; Binder, M.; Galler, B.; Zeisel, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Reliability of Ultraviolet Light-Emitting Diodes
2019 De Santi, C.; Monti, D.; Dalapati, Pradip; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
The Photonic Atom Probe as a Tool for the Analysis of the Effect of Defects on the Luminescence of Nitride Quantum Structures
2023 Dimkou, Ioanna; Houard, Jonathan; Rochat, Névine; Dalapati, Pradip; DI RUSSO, Enrico; Cooper, David; Grenier, Adeline; Monroy, Eva; Rigutti, Lorenzo
| Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
|---|---|---|---|---|---|
| Demonstration of band-to-band tunneling and avalanche regime in InGaN LEDs | 2019 | N. RensoC. De SantiP. DalapatiD. MontiG. MeneghessoE. ZanoniM. Meneghini + | - | - | Proceedings of the 13th International Conference on Nitride Semiconductors 2019 (ICNS-13) |
| Evidence for avalanche generation in reverse-biased InGaN LEDs | 2019 | Renso N.De Santi C.Dalapati P.Monti D.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + | - | PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Reliability of Ultraviolet Light-Emitting Diodes | 2019 | C. De SantiD. MontiDalapati, PradipM. MeneghiniG. MeneghessoE. Zanoni | - | - | Solid State Lighting Technology and Application Series |
| The Photonic Atom Probe as a Tool for the Analysis of the Effect of Defects on the Luminescence of Nitride Quantum Structures | 2023 | Pradip DalapatiEnrico Di Russo + | MICROSCOPY AND MICROANALYSIS | - | - |