Aging behavior, reliability, and failure physics of GaN-based optoelectronic components

ZANONI, ENRICO;MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;DE SANTI, CARLO;LA GRASSA, MARCO;BUFFOLO, MATTEO;TRIVELLIN, NICOLA;MONTI, DESIREE
2016

Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
978-1-5106-0003-4
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

Caricamento pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11577/3224130
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 3
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 2
social impact