Impact of a defect trapping layer on the reliability of 1.3 μm quantum dot laser diodes grown on silicon

Zenari M.;Buffolo M.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2022
2022
MICROELECTRONICS RELIABILITY
WOS:000897691700017
2-s2.0-85140963172
01.01 - Articolo in rivista
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