TLP effects on normally-off p-GaN gate power HEMTs with Schottky gate

C. De Santi;S. L. Longato;I. Rossetto;M. Buffolo;F. Rampazzo;G. Meneghesso;E. Zanoni;M. Meneghini
2025

2025
Proceedings of the 6th India ESD Workshop 2025
6th India ESD Workshop 2025 (InEW2025)
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