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Dynamic-ron control via proton irradiation in AlGaN/GaN transistors
2018 Tajalli, Alaleh; Stockman, A.; Meneghini, M.; Mouhoubi, S.; Banerjee, A.; Gerardin, S.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Zanoni, E.; Tack, M.; Bakeroot, B.; Moens, P.; Meneghesso, G.
Development of a Large Pixel Chip Demonstrator in RD53 for ATLAS and CMS Upgrades
2018 Conti, Elia; Barbero, Marlon; Fougeron, Denis; Godiot, Stéphanie; Menouni, Mohsine; Pangaud, Patrick; Alexandre, Rozanov; Breugnon, Patrick; Bomben, Marco; Calderini, Giovanni; Crescioli, Francesco; Le Dortz, Olivier; Marchiori, Giovanni; Dzahini, Daniel; Rarbi, Fatah Ellah; Gaglione, Renaud; Hemperek, Tomasz; Huegging, Fabian; Krueger, Hans; Rymaszewski, Piotr; Vogt, Marco; Wang, Tienyang; Norbert, Wermes; Karagounis, Michael; Ciciriello, Fabio; Corsi, Francesco; Marzocca, Cristoforo; De Robertis, Giuseppe; Loddo, Flavio; Licciulli, Francesco; Andreazza, Attilio; Liberali, Valentino; Stabile, Alberto; Frontini, Luca; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Gerardin, Simone; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro; Vogrig, Daniele; Bonaldo, Stefano; Bacchetta, Nicola; De Canio, Francesco; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Riceputi, Elisa; Traversi, Gianluca; Ratti, Lodovico; Vacchi, Carla; Androsov, Konstantin; Beccherle, Roberto; Magazzu, Guido; Minuti, Massimo; Morsani, Fabio; Palla, Fabrizio; Poulios, Stamatis; Bilei, Gian Mario; Menichelli, Mauro; Placidi, Pisana; Marconi, Sara; Dellacasa, Giulio; Demaria, Natale; Mazza, Giovanni; Monteil, Ennio; Pacher, Luca; Rivetti, Angelo; Da Rocha Rolo, Manuel Dionisio; Paternò, Andrea; Gajanna, Deepak; Gromov, Vladimir; Van Eijk, Bob; Kluit, Ruud; Vitkovskiy, Arseniy; Benka, Tomas; Havranek, Miroslav; Janoska, Zdenko; Marcisovsky, Michal; Neue, Gordon; Tomasek, Lukas; Kafka, Vratislav; Vrba, Vaclav; Lopez-Morillo, Enrique; Palomo, Francisco Rogelio; Munoz, Fernando; Vila, Ivan; Jiménez, Esther; Abbaneo, Duccio; Christiansen, Jorgen; Orfanelli, Stella; Jara Casas, Luis Miguel; Bell, Stephen Jean-Marc; Prydderch, Mark; Thomas, Stephen; Christian, David Charles; Deptuch, Grzegorz; Fahim, Farah; Hoff, James; Zimmerman, Tom; Miryala, Sandeep; Garcia-Sciveres, Maurice; Gnani, Dario; Krieger, Amanda; Papadopoulou, Katerini; Heim, Timon; Carney, Rebecca; Nachman, Benjamin Philip; Renteira, Cesar; Wallangen, Veronica; Hoeferkamp, Martin Robert; Seidel, Sally
Dose-rate sensitivity of 65-nm MOSFETs Exposed to ultrahigh doses
2018 Borghello, G.; Faccio, F.; Lerario, E.; Michelis, S.; Kulis, S.; Fleetwood, D. M.; Schrimpf, R. D.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Bonaldo, S.
Impact of Thermal and Intermediate Energy Neutrons on SRAM SEE Rates in the LHC Accelerator
2018 Cecchetto, M.; Garcia Alia, R.; Gerardin, S.; Brugger, M.; Infantino, A.; Danzeca, S.
Design implementation and test results of the RD53A, a 65 nm large scale chip for next generation pixel detectors at the HL-LHC
2018 Marconi, S.; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Breugnon, P.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Dortz, O. L.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Kruger, H.; Daas, M.; Dieter, Y.; Hemperek, T.; Hugging, F.; Moustakas, K.; Pohl, D.; Rymaszewski, P.; Standke, M.; Vogt, M.; Wang, T.; Wermes, N.; Karagounis, M.; Stiller, A.; Marzocca, C.; De Robertis, G.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Stabile, A.; Frontini, L.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Gerardin, S.; Mattiazzo, S.; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Bonaldo, S.; Bacchetta, N.; Gaioni, L.; De Canio, F.; Manghisoni, M.; Re, V.; Riceputi, E.; Traversi, G.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Androsov, K.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Placidi, P.; Dellacasa, G.; Demaria, N.; Mazza, G.; Monteil, E.; Pacher, L.; Paterno, A.; Rivetti, A.; Da Rocha Rolo, M. D.; Gajanana, D.; Gromov, V.; Van Eijk, B.; Kluit, R.; Vitkovskiy, A.; Benka, T.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Vrba, V.; Lopez-Morillo, E.; Palomo, F. R.; Munoz, F.; Vila, I.; Jimenez, E. M. S.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Orfanelli, S.; Jara Casas, L. M.; Conti, E.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Miryala, S.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Krieger, A.; Papadopoulou, K.; Heim, T.; Carney, R.; Nachman, B.; Renteira, C.; Wallangen, V.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.
Fast neutron irradiation tests of flash memories used in space environment at the ISIS spallation neutron source
2018 Andreani, C.; Senesi, R.; Paccagnella, A.; Bagatin, M.; Gerardin, S.; Cazzaniga, C.; Frost, C. D.; Picozza, P.; Gorini, G.; Mancini, R.; Sarno, M.
Atmospheric-like neutron attenuation during accelerated neutron testing with multiple printed circuit boards
2018 Cazzaniga, Carlo; Bhuva, Bharat; Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Marchese, Nicolo; Frost, Christopher D.
First tests of a new facility for device-level, board-level and system-level neutron irradiation of microelectronics
2018 Cazzaniga, Carlo; Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Costantino, Alessandra; Frost, Christopher David
Simulation and Experiment in Neutron Induced Single Event Effects in SRAM
2017 Jin, X.; Wang, C.; Guo, X.; Qi, C.; Yang, S.; Liu, Y.; Chen, W.; Gerardin, S.; Bagatin, M.; Bonaldo, S.; Paccagnella, A.
1GigaRad TID impact on 28nm HEP analog circuits
2017 Resta, F.; Gerardin, S.; Mattiazzo, S.; Paccagnella, A.; De Matteis, M.; Enz, C.; Baschirotto, A.
Space Environment Effects on Flexible, Low-Voltage Organic Thin-Film Transistors
2017 Basiricò, Laura; Basile, Alberto Francesco; Cosseddu, Piero; Gerardin, Simone; Cramer, Tobias; Bagatin, Marta; Ciavatti, Andrea; Paccagnella, Alessandro; Bonfiglio, Annalisa; Fraboni, Beatrice
Total Suppression of Dynamic-Ron in AlGaN/GaN-HEMTs Through Proton Irradiation
2017 Meneghini, M; Tajalli, A; Moens, P; Baneree, A; Stockman, A; Tack, M; Gerardin, S; Bagatin, M; Paccagnella, A; Zanoni, E; Meneghesso, G
Heavy-ion upset immunity of RRAM cells based on thin HfO2layers
2017 Alayan, M.; Bagatin, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Vianello, E.; Nowak, E.; De Salvo, B.; Larcher, Luca; Perniola, L.
Effects of high-energy electrons in advanced NAND flash memories
2017 Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro; Costantino, Alessandra; Ferlet-Cavrois, Veronique; Virtanen, Ari; Kettunen, Heikki; Wang, Pierre
A low cost robust radiation hardened flip-flop circuit
2017 Jain, A.; Gupta, A.; Garg, S.; Veggetti, A.; Castelnovo, A.; Crippa, D.; Gerardin, S.; Bagatin, M.; Cazzaniga, C.
Total Ionizing Dose effects on a 28 nm Hi-K metal-gate CMOS technology up to 1 Grad
2017 Mattiazzo, Serena; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Gerardin, Simone; Marchioro, A.; Paccagnella, Alessandro; Pantano, Devis; Pezzotta, A.; Zhang, C. M.; Baschirotto, A.
Complete loss of functionality and permanent page fails in NAND flash memories
2017 Gerardin, S.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Voss, K.; Grürmann, K.; Ferlet-Cavrois, V.
Experimental and Simulation Study of the Effects of Heavy-ion Irradiation on HfO2-based RRAM Cells
2017 Alayan, M.; Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro; Larcher, L.; Vianello, E.; Nowak, E.; De Salvo, B.; Perniola, L.
Single Event Upsets Induced by Direct Ionization from Low-Energy Protons in Floating Gate Cells
2017 Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro; Visconti, Angelo; Virtanen, Ari; Kettunen, Heikki; Costantino, Alessandra; Ferlet Cavrois, Veronique; Zadeh, Ali
Upsets in Erased Floating Gate Cells with High-Energy Protons
2017 Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Paccagnella, Alessandro; Visconti, A.; Bonanomi, M.; Calabrese, M.; Chiavarone, L.; Ferlet Cavrois, V.; Schwank, J. R.; Shaneyfelt, M. R.; Dodds, N.; Trinczek, M.; Blackmore, E.
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