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Loss Mechanisms in InGaN/GaN Quantum Well Structures
2008 Tamiazzo, Gianluca
Failure mechanisms of gallium nitride LEDs related with passivation
2005 Meneghini, Matteo; Trevisanello, LORENZO ROBERTO; Levada, Simone; Meneghesso, Gaudenzio; Tamiazzo, Gianluca; Zanoni, Enrico; T., Zahner; U., Zehnder; V., Haerle; U., Strauss
Hot Electron stress on unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs
2005 Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Pierobon, Roberto; Tamiazzo, Gianluca; Zanoni, Enrico; P., Kordos; J., Bernat
Influence of gate-leakage current on drain current collapse of unpassivated GaN/AlGaN/GaN high electron mobility transistors
2005 Kordos, P.; Bernat, J.; Marso, M.; Luth, H.; Rampazzo, Fabiana; Tamiazzo, Gianluca; Pierobon, Roberto; Meneghesso, Gaudenzio
Hot-electron-stress degradation in unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs on SiC
2005 Meneghesso, Gaudenzio; Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Tamiazzo, Gianluca; Zanoni, Enrico; J., Bernat; P., Kordos; A. F., Basile; A., Chini; G., Verzellesi
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