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OFF-State Degradation of AlGaN/GaN Power HEMTs: Experimental Demonstration of Time-Dependent Drain-Source Breakdown
2014 Meneghini, Matteo; Cibin, Giulia; Bertin, Marco; G. A. M., Hurkx; P., Ivo; J., Sonsky; J. A., Croon; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Influence of Fluorine-Based Dry Etching on Electrical Parameters of AlGaN/GaN-on-Si High Electron Mobility Transistors
2013 Bisi, Davide; Meneghini, Matteo; Stocco, Antonio; Cibin, Giulia; A., Pantellini; A., Nanni; C., Lanzieri; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio
Electrical and Electroluminescence Characteristics of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors Operated in Sustainable Breakdown Conditions
2013 Meneghini, Matteo; Zanandrea, Alberto; Rampazzo, Fabiana; Stocco, Antonio; Bertin, Marco; Cibin, Giulia; Dionyz, Pogany; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio
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