Reliability of Gallium Nitride microwave transistors: A framework for the evaluation of failure mechanisms and instabilities, from accelerated testing to failure analysis and process improvement

ZANONI, ENRICO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;MENEGHINI, MATTEO;STOCCO, ANTONIO;DALCANALE, STEFANO;RAMPAZZO, FABIANA;DE SANTI, CARLO;ROSSETTO, ISABELLA
2016
2016
Proc. of the 21st International Conference on Microwave, Radar and Wireless Communications (MIKON)
WOS:000390422000074
2-s2.0-84979266944
978-1-5090-2214-4
04.01 - Contributo in atti di convegno
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