Padua Research Archive, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Università degli Studi di Padova, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ateneo. Padua Research Archive utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

DALCANALE, STEFANO

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	Titolo	Data di pubblicazione	Autori	Rivista	Titolo libro
1	Evidence of Hot-Electron Effects during Hard Switching of AlGaN/GaN HEMTs	2017	ROSSETTO, ISABELLA ; MENEGHINI, MATTEO ; TAJALLI, ALALEH ; DALCANALE, STEFANO ; DE SANTI, CARLO ; Moens, P.; Banerjee, A.; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
2	GaN-based MIS-HEMTs: Impact of cascode-mode high temperature source current stress on NBTI shift	2017	DALCANALE, STEFANO ; MENEGHINI, MATTEO ; TAJALLI, ALALEH ; ROSSETTO, ISABELLA ; RUZZARIN, MARIA ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Moens, Peter; Banerjee, Abhishek; Vandeweghe, Steven	IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS	IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
3	Reliability of Gallium Nitride microwave transistors: A framework for the evaluation of failure mechanisms and instabilities, from accelerated testing to failure analysis and process improvement	2016	ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; STOCCO, ANTONIO ; DALCANALE, STEFANO ; RAMPAZZO, FABIANA ; DE SANTI, CARLO ; ROSSETTO, ISABELLA		Proc. of the 21st International Conference on Microwave, Radar and Wireless Communications (MIKON)
4	A comprehensive reliability evaluation of high-performance AlGaN/GaN HEMTs for space applications	2016	DE SANTI, CARLO ; DALCANALE, STEFANO ; STOCCO, ANTONIO ; RAMPAZZO, FABIANA ; GERARDIN, SIMONE ; MENEGHINI, MATTEO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; Grünenpütt, Jan; Lambert, Benoit; Schauwecker, Bernd; Blanck, Hervé; Barnes, Andrew; ZANONI, ENRICO		proc. of the 8th Wide Bandgap Semiconductors and Components Workshop
5	Experimental demonstration of weibull distributed failure in p-type GaN high electron mobility transistors under high forward bias stress	2016	ROSSETTO, ISABELLA ; MENEGHINI, MATTEO ; SILVESTRI, RICCARDO ; DALCANALE, STEFANO ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Hilt, O.; Bahat Treidel, E.; Wuerfl, J.		Proceedings of the 28th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)
6	Intrinsic reliability assessment of 650V rated AlGaN/GaN based power devices : An industry perspective	2016	Moens, P.; Banerjee, A.; Constant, A.; Coppens, P.; Caesar, M.; Li, Z.; Vandeweghe, S.; Declercq, F.; Padmanabhan, B.; Jeon, W.; Guo, J.; Salih, A.; Tack, M.; MENEGHINI, MATTEO ; DALCANALE, STEFANO ; TAJALLI, ALALEH ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; Uren, M. J.; Chatterjee, I.; Karboyan, S.; Kuball, M.		229th ECS Meeting - Silicon Compatible Materials, Processes, and Technologies for Advanced Integrated Circuits and Emerging Applications 6
7	Normally-off GaN-HEMTs with p-type gate: Off-state degradation, forward gate stress and ESD failure	2016	MENEGHINI, MATTEO ; Hilt, O.; Fleury, C.; SILVESTRI, RICCARDO ; Capriotti, M.; Strasser, G.; Pogany, D.; Bahat Treidel, E.; Brunner, F.; Knauer, A.; Würfl, J.; ROSSETTO, ISABELLA ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; DALCANALE, STEFANO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
8	Time-Dependent Failure of GaN-on-Si Power HEMTs With p-GaN Gate	2016	ROSSETTO, ISABELLA ; MENEGHINI, MATTEO ; Hilt, O.; Bahat Treidel, E.; DE SANTI, CARLO ; DALCANALE, STEFANO ; Wuerfl, J.; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
9	Evidence for temperature-dependent buffer-induced trapping in GaN-on-silicon power transistors	2015	MENEGHINI, MATTEO ; SILVESTRI, RICCARDO ; DALCANALE, STEFANO ; BISI, DAVIDE ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Vanmeerbeek, P.; Banerjee, A.; Moens, P.		IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
10	Temperature-dependent dynamic RON in GaN-based MIS-HEMTs: Role of surface traps and buffer leakage	2015	MENEGHINI, MATTEO ; Vanmeerbeek, P.; SILVESTRI, RICCARDO ; DALCANALE, STEFANO ; Banerjee, A.; BISI, DAVIDE ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Moens, P.	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
11	Failure signatures on 0.25 mu m GaN HEMTs for high-power RF applications	2014	STOCCO, ANTONIO ; DALCANALE, STEFANO ; RAMPAZZO, FABIANA ; MENEGHINI, MATTEO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; J. Gruenenpuett; B. Lambert; H. Blanck; ZANONI, ENRICO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
12	Proton induced trapping effect on space compatible GaN HEMTs	2014	STOCCO, ANTONIO ; GERARDIN, SIMONE ; BISI, DAVIDE ; DALCANALE, STEFANO ; RAMPAZZO, FABIANA ; MENEGHINI, MATTEO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; J. Gruenenpuett; B. Lambert; H. Blanck; ZANONI, ENRICO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
13	Simple technique for failure modes detection on high-performances space designed GaN HEMTs	2014	STOCCO, ANTONIO ; DALCANALE, STEFANO ; RAMPAZZO, FABIANA ; MENEGHINI, MATTEO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; J. Grünenpütt; B. Lambert; H. Blanck; A. Barnes; ZANONI, ENRICO		proc. of 7th ESA-MOD Workshop on Wideband Gap semiconductors and Components
14	Reliability improvement of AlGaN/GaN HEMTs for space applications	2014	DALCANALE, STEFANO ; STOCCO, ANTONIO ; RAMPAZZO, FABIANA ; MENEGHINI, MATTEO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO		Proc. of 38th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits

Dettaglio

Nome completo:

DALCANALE, STEFANO

struttura:

Università di Padova