Novel models for the analysis of the dynamic performance of wide bandgap devices

Carlo De Santi
;
Manuel Fregolent;Nicola Modolo;Matteo Buffolo;Fabiana Rampazzo;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni;Matteo Meneghini
2023

2023
Proceedings of the 37th Reliability of Compound Semiconductors Workshop (ROCS 2023)
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