FREGOLENT, MANUEL
FREGOLENT, MANUEL
Università di Padova
Mostra
records
Risultati 1 - 3 di 3 (tempo di esecuzione: 0.006 secondi).
Carrier capture kinetics, deep levels, and isolation properties of β -Ga2O3Schottky-barrier diodes damaged by nitrogen implantation
2020 De Santi, C.; Fregolent, M.; Buffolo, M.; Wong, M. H.; Higashiwaki, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Deep levels and carrier capture kinetics in n-GaAsBi alloys investigated by deep level transient spectroscopy
2021 Fregolent, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Hasegawa, S.; Matsumura, J.; Nishinaka, H.; Yoshimoto, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Impact of thermal annealing on deep levels in nitrogen-implanted β-Ga2O3Schottky barrier diodes
2021 Fregolent, M.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Higashiwaki, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.