Reliability analysis of high power LEDs for automotive: impact of current and temperature

Alessandro Caria;Nicola Trivellin;Riccardo Fraccaroli;Nicola Roccato;Matteo Buffolo;Carlo De Santi;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni;Matteo Meneghini
2024
2024
Proceedings of ESREF 2024 conference
35th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2024)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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