Padua Research Archive, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Università degli Studi di Padova, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ateneo. Padua Research Archive utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

CARIA, ALESSANDRO

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	Titolo	Data di pubblicazione	Autori	Rivista	Serie	Titolo libro
1	Challenges for highly reliable GaN-based LEDs	2019	ZANONI, ENRICO ; DE SANTI, CARLO ; TRIVELLIN, NICOLA ; RENSO, NICOLA ; BUFFOLO, MATTEO ; MONTI, DESIREE ; CARIA, ALESSANDRO ; PIVA, FRANCESCO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; MENEGHINI, MATTEO		PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING	Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
2	Degradation processes and origin in InGaN-based high-power photodetectors	2018	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; CARIA, ALESSANDRO ; Dogmus, E.; Zegaoui, M.; MEDJDOUB, FARID ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO	PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING		Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
3	GaN-based laser wireless power transfer system	2018	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; CARIA, ALESSANDRO ; Dogmus, Ezgi; Zegaoui, Malek; Medjdoub, Farid; KALINIC, BORIS ; CESCA, TIZIANA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO	MATERIALS
4	Evidence of optically induced degradation in gallium nitride optoelectronic devices	2018	DE SANTI, CARLO ; CARIA, ALESSANDRO ; RENSO, NICOLA ; Dogmus, Ezgi; Zegaoui, Malek; MEDJDOUB, FARID ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHINI, MATTEO	APPLIED PHYSICS EXPRESS
5	Evidence for recombination-induced degradation processes in InGaN-based optoelectronic devices	2018	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; CARIA, ALESSANDRO ; RENSO, NICOLA ; E. Dogmus; M. Zegaoui; MEDJDOUB, FARID ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO			Proceedings of the Compound Semiconductor Week 2018
6	Degradation of InGaN-based optoelectronic devices under electrical and optical stress	2018	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; CARIA, ALESSANDRO ; RENSO, NICOLA ; E. Dogmus; M. Zegaoui; F. Medjdoub; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO			Proceedings of the 50th Annual Meeting of the Associazione Società Italiana di Elettronica (SIE 2018)
7	Electrically- and Optically-driven Degradation Processes in InGaN-based Photodetectors	2018	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; CARIA, ALESSANDRO ; RENSO, NICOLA ; E. Dogmus; M. Zegaoui; F. Medjdoub; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO			Proceedings of the GaN Marathon 2.0
8	Degradation of InGaN-based MQW solar cells under 405 nm laser excitation	2017	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; CARIA, ALESSANDRO ; Dogmus, E.; Zegaoui, M.; Medjdoub, F.; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
9	Carrier generation and recombination dynamics and reliability of InGaN-based photodetectors for high power densities	2017	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; CARIA, ALESSANDRO ; E. Dogmus; M. Zegaoui; F. Medjdoub; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO			Proceedings of the 12th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-12)
10	Degradation of InGaN-based solar cells under monochromatic photoexcitation	2017	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; E. Dogmus; M. Zegaoui; F. Medjdoub; CARIA, ALESSANDRO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO			Proceedings of the Compound Semiconductor Week 2017

Dettaglio

Nome completo:

CARIA, ALESSANDRO

struttura:

Università di Padova