ROCCATO, NICOLA
ROCCATO, NICOLA
Università di Padova
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Deep defects in InGaN LEDs: modeling the impact on the electrical characteristics
2022 Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Mukherjee, K; Buffolo, M; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Defects and Reliability of GaN-Based LEDs: Review and Perspectives
2022 Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Roccato, N.; Casu, C.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Defects in III-N LEDs: experimental identification and impact on electro-optical characteristics
2022 Buffolo, M; Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Casu, C; Caria, A; Mukherjee, K; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Mosca, M; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Discriminating the effects of deep-levels in InGaN/GaN LEDs: impact on forward leakage current
2022 Buffolo, M.; Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Haller, C.; Carlin, Jean-François; Grandjean, N.; Vallone, M.; Tibaldic, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
DLTS-based defect analysis in UV-C single QW LEDs during a constant current stress
2022 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Effects of quantum-well indium content on deep defects and reliability of InGaN/GaN light-emitting diodes with under layer
2021 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
III-N optoelectronics: defects, reliability and challenges
2022 Meneghini, M.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Casu, C.; Roccato, N.; Carlin, J. F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Modeling of TAT-related forward leakage current in InGaN/GaN SQW LEDs based on experimentally-determined defects parameters
2022 Buffolo, M.; Roccato, N.; Piva, Francesco; DE SANTI, Carlo; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical characteristic of InGaN/GaN blue-violet LED structure under electrical stress
2022 Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Buffolo, M; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Modeling the electrical characteristics of InGaN/GaN LED structures based on experimentally-measured defect characteristics
2021 Roccato, N.; Piva, F.; Santi, C. D.; Brescancin, R.; Mukherjee, K.; Buffolo, M.; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Vallone, M.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Probing carrier transport and recombination processes in dichromatic GaN-based LEDs: a nonequilibrium Green’s function study
2022 Gonzalez Montoya, J. A.; Tibaldi, A.; Casu, C.; Roccato, N.; De Santi, C.; Meneghini, M.; Goano, M.; Bertazzi, F.
UV LED reliability: degradation mechanisms and challenges
2022 Meneghini, M; Piva, F; De Santi, C; Trivellin, N; Buffolo, M; Roccato, N; Brescancin, R; Grigoletto, M; Fiorimonte, D; Einfeldt, S; Glaab, J; Ruschel, J; Susilo, N; Wernicke, T; Kneissl, M; Meneghesso, G; Zanoni, E